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局部放電檢測(cè)方法種電測(cè)法的適用說(shuō)明

文章來(lái)源:馳宇電力 發(fā)布時(shí)間:2021-10-25 09:01:46 瀏覽量:826 次

  發(fā)生電力設(shè)備事故的起因,大多源于局部放電。局部放電檢測(cè)作為一種非破壞性試驗(yàn),越來(lái)越得到人們的重視。

  對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行局部放電測(cè)試是一項(xiàng)重要預(yù)防性試驗(yàn)。

  局部放電不會(huì)引起絕緣貫穿性擊穿,但可以導(dǎo)致電介質(zhì)的局部損壞,長(zhǎng)期情況下導(dǎo)致絕緣劣化甚至擊穿。

  根據(jù)局部放電產(chǎn)生的各種物理、化學(xué)現(xiàn)象,,如電荷的交換,發(fā)射電磁波、聲波、發(fā)熱、光、產(chǎn)生分解物等,有多種測(cè)量局部放電的方行法。

局部放電檢測(cè)儀

  局部放電測(cè)量方法:電測(cè)法非電測(cè)法兩大類。電測(cè)法包括:脈沖電流法、無(wú)線電干擾法、介質(zhì)損耗分析法等;

  非電測(cè)法包括:聲測(cè)法、光測(cè)法、化學(xué)檢測(cè)法和紅外熱測(cè)法等。

  電測(cè)法

  局部放電最直接的現(xiàn)象即引起電極間的電荷轉(zhuǎn)移,從而引起試樣外部電極上的電壓變化。

  氣隙中局部放電持續(xù)時(shí)間很短,10ns量級(jí);油隙中1us量級(jí)。根據(jù)Maxwell電磁理論, 如此短持續(xù)時(shí)間的放電脈沖會(huì)產(chǎn)生高頻的電磁信號(hào)向外輻射。

  局部放電電檢測(cè)法即是基于電荷轉(zhuǎn)移和電磁輻射這兩個(gè)原理。

  1、脈沖電流法,脈沖電流法是一種應(yīng)用最為廣泛的局部放電測(cè)試方法。

  2、無(wú)線電干擾電壓法(Radio Interference Voltage, RIV),通過(guò)射頻傳感器檢測(cè)放電信號(hào)。

  射頻傳感器:電容傳感器、Rogowski線圈電流傳感器、射頻天線傳感器等。

  RIV方法能定性檢測(cè)局部放電是否發(fā)生, 甚至可以根據(jù)電磁信號(hào)的強(qiáng)弱對(duì)電機(jī)線棒和沒(méi)有屏蔽層的長(zhǎng)電纜進(jìn)行局部放電定位;

  采用Rogowski線圈傳感器也能定量檢測(cè)放電強(qiáng)度,且測(cè)試頻帶較寬(1~30MHz)。

  3.介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis, DLA)

  局部放電對(duì)絕緣材料的破壞作用與局部放電消耗的能量直接相關(guān),因此對(duì)放電消耗功率的測(cè)量能夠定性反映出局部放電性質(zhì)。

  Tg6能夠反映介質(zhì)損耗, 介質(zhì)損壞將導(dǎo)致tg 6增加。因此可以通過(guò)測(cè)量tg6值來(lái)反映局部放電能量,從而判斷絕緣材料和結(jié)構(gòu)的性能情況。

  介質(zhì)損耗分析法特別適用于測(cè)量低氣壓中存在的輝光或者亞輝光放電。

  輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號(hào),而亞輝光放電的脈沖上升沿時(shí)間太長(zhǎng),普通的脈沖電流法檢測(cè)裝置中難以檢測(cè)出來(lái)。

  但這種放電消耗的能量很大,使得tg6很大,故只有采用電橋法檢測(cè)tg6才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶來(lái)的危害。

  DLA方法只能定性測(cè)量局部放電是否發(fā)生, 不能檢測(cè)局部放電量的大小,這限制了DLA方法的運(yùn)用。

——責(zé)任編輯 馳宇電力
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