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  局部放電測(cè)試目的及意義

  局部放電：是指在絕緣介質(zhì)電極間但并未貫通發(fā)生的放電。局部放放電常發(fā)生在電場(chǎng)強(qiáng)度較高，且介質(zhì)強(qiáng)度較低的部位。局部放電的種類(lèi)：

  絕緣材料內(nèi)部放電(固體-空穴;液體-氣泡);

  表面放電;

  高壓電極尖端放電;

  局部放電的產(chǎn)生：設(shè)備絕緣內(nèi)部存在弱點(diǎn)或生產(chǎn)過(guò)程中造成的缺陷，在高壓電場(chǎng)作用下發(fā)生重復(fù)擊穿和熄滅現(xiàn)象-局部放電。局部放電的特點(diǎn)：

  放電能量很小，短時(shí)間內(nèi)存在不影響電氣設(shè)備的絕緣強(qiáng)度。

  對(duì)絕緣的危害是逐漸加大的，它的發(fā)展需要一定時(shí)間-累計(jì)效應(yīng)-缺陷擴(kuò)大-絕緣擊穿。

  對(duì)絕緣系統(tǒng)壽命的評(píng)估分散性很大。發(fā)展時(shí)間、局部放電種類(lèi)、產(chǎn)生位置、絕緣種類(lèi)等有關(guān)。

  局部放電試驗(yàn)屬非破壞性試驗(yàn)。不會(huì)造成絕緣損傷。

  局部放電測(cè)試的目的和意義：

  確定試品是否存在放電及放電是否超標(biāo)，確定局部放電起始和熄滅電壓。發(fā)現(xiàn)其他絕緣試驗(yàn)不能檢查出來(lái)的絕緣局部隱形缺陷及故障。

  局部放電主要參量：

  局部放電的視在電荷q：電荷瞬時(shí)注入被試品兩端時(shí)，被試品兩端電壓的瞬時(shí)變化量與被試品局部放電本身所引起的電壓瞬變量相等的電荷量，一般用pC(皮庫(kù))表示。

  局部放電起始電壓 Ui：被試品兩端出現(xiàn)局部放電時(shí)，施加在被試品兩端的電壓值。

  局部放電熄滅電壓 Ui：試品兩端局部放電消失時(shí)的電壓值。

  局部放電機(jī)理：

  內(nèi)部放電：絕緣材料中含有氣隙、油隙、雜質(zhì)等，在電場(chǎng)的作用下會(huì)出現(xiàn)介質(zhì)內(nèi)部或介質(zhì)與電極之間的放電。

  局部放電放電的產(chǎn)生與介質(zhì)內(nèi)部電場(chǎng)分布有關(guān)，空穴與介質(zhì)完好部分電壓分布關(guān)系如下：

  因?yàn)榻橘|(zhì)電容充電電荷 q=UC，C=eS/d

  eo=1空穴大多為空氣，eb>1，所以空穴的E高于完好介質(zhì)，同時(shí)，完好介質(zhì)的臨界場(chǎng)強(qiáng)遠(yuǎn)高于空氣，如環(huán)氧樹(shù)脂Ec=200-300(kV/cm)，而空氣為25-30(kV/cm)，當(dāng)外施電壓達(dá)一定值時(shí)空穴首先擊穿，其它介質(zhì)完好，形成局部放電。

  電暈放電：在電場(chǎng)極不均勻的情況下，導(dǎo)體表面的電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到附近氣體的擊穿場(chǎng)強(qiáng)發(fā)生的放電。電暈放電大多發(fā)生在電極邊緣、導(dǎo)體尖端周?chē)?，電暈放電一般發(fā)生在負(fù)半周。

  放電量與各參數(shù)間的關(guān)系

  一個(gè)脈沖真實(shí)放電量 qr， Ug、Ur 等參數(shù)在實(shí)際試品中是不可知的，同時(shí)絕緣缺陷各不相同，故真實(shí)放電量是不可以直接測(cè)量的。局部放電將引起絕緣上所施加電壓的變化，產(chǎn)生一個(gè)△U，同時(shí)也引起絕緣介質(zhì)中電荷q的轉(zhuǎn)移，我們稱(chēng)之為視在放電量。